日本NCC制造設(shè)備的清潔度檢查燈Mgear 無極燈
日本NCC制造設(shè)備的清潔度檢查燈Mgear 可以產(chǎn)生極其強(qiáng)大的直線光,具有粗光軸,即使在正常明亮的條件下也可以人工產(chǎn)生丁達(dá)爾效應(yīng),并使漂浮在太空中的塵埃可見。此外,可以使用暗場照明方法來可視化累積和粘附的灰塵。
更新日期:2024-03-25 訪問量:557
日本NCC工作環(huán)境中墻壁灰塵檢查燈Mgear 無極燈
日本NCC工作環(huán)境中墻壁灰塵檢查燈Mgear 可以產(chǎn)生極其強(qiáng)大的直線光,具有粗光軸,即使在正常明亮的條件下也可以人工產(chǎn)生丁達(dá)爾效應(yīng),并使漂浮在太空中的塵??梢?。此外,可以使用暗場照明方法來可視化累積和粘附的灰塵。
更新日期:2024-03-25 訪問量:1084
日本NCC工作環(huán)境中地板灰塵檢查燈Mgear 無極燈
日本NCC工作環(huán)境中地板灰塵檢查燈Mgear 可以產(chǎn)生極其強(qiáng)大的直線光,具有粗光軸,即使在正常明亮的條件下也可以人工產(chǎn)生丁達(dá)爾效應(yīng),并使漂浮在太空中的塵??梢姟4送?,可以使用暗場照明方法來可視化累積和粘附的灰塵。
更新日期:2024-03-25 訪問量:723
日本NCC潔凈室浮塵檢查燈Mgear 可以產(chǎn)生極其強(qiáng)大的直線光,具有粗光軸,即使在正常明亮的條件下也可以人工產(chǎn)生丁達(dá)爾效應(yīng),并使漂浮在太空中的塵??梢?。此外,可以使用暗場照明方法來可視化累積和粘附的灰塵。
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日本NCC浮塵可視化檢查燈ZEUS 無極燈 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少?這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響,在制造現(xiàn)場的各處(墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面)積聚。
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日本NCC產(chǎn)品表面異物檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少?這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?!钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊?,在制造現(xiàn)場的各處(墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面)積聚。
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日本NCC氣流可視化塵檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少?這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?!钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊?,在制造現(xiàn)場的各處(墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面)積聚。
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日本NCC產(chǎn)品表面灰塵檢查燈ZEUS 無極燈 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少?這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?!钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊懀谥圃飕F(xiàn)場的各處(墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面)積聚。
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日本NCC工作臺(tái)灰塵檢查燈ZEUS 無極燈 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少?這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?!钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊懀谥圃飕F(xiàn)場的各處(墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面)積聚。
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日本NCC地板灰塵檢查燈ZEUS 無極燈 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少?這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?!钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊?,在制造現(xiàn)場的各處(墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面)積聚。
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日本NCC墻壁灰塵檢查燈ZEUS 無極燈 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少?這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?!钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊?,在制造現(xiàn)場的各處(墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面)積聚。
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日本NCC手持式灰塵可視化檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少?這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?!钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊?,在制造現(xiàn)場的各處(墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面)積聚。
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日本NCC異物缺陷檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少?這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?!钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊?,在制造現(xiàn)場的各處(墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面)積聚。
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日本NCC室內(nèi)灰塵檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少?這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?!钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊懀谥圃飕F(xiàn)場的各處(墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面)積聚。
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日本sena玻璃晶圓目視檢查燈185LE 光學(xué)測量儀
日本sena玻璃晶圓目視檢查燈185LE 高照度照明設(shè)備(表面檢查燈)185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF(彩色濾光片),觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期:2024-03-24 訪問量:854