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日本daiei大榮科學(xué)測(cè)厚儀FS-60DS
日本daiei大榮科學(xué)測(cè)厚儀FS-60DS 一種測(cè)量織物、地板覆蓋物、薄膜、橡膠、聚氨酯泡沫等厚度的設(shè)備。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1438
日本sasaki koki半導(dǎo)體用金屬非接觸式測(cè)厚儀OZUMA22 精確控制上、下測(cè)量噴嘴的背壓，噴嘴定位使噴嘴與被測(cè)物體之間的間隙恒定，并與預(yù)先用基準(zhǔn)規(guī)校準(zhǔn)的值進(jìn)行比較計(jì)算處理對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行測(cè)量操作，可精確計(jì)算厚度。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1219
日本sasaki koki半導(dǎo)體晶體非接觸式測(cè)厚儀OZUMA22 OZUMA 更新了用于半導(dǎo)體晶片（Si 硅晶片、GaAs、砷化鎵 Ga）、砷（As）、玻璃、金屬等的高精度非接觸式厚度測(cè)量裝置（非接觸式厚度測(cè)量裝置） . 非接觸式測(cè)厚儀OZUMA22用于控制半導(dǎo)體晶片（Si硅晶片、GaAs、鎵（Ga）砷（As））在背面拋光過(guò)程中，或在每個(gè)制造過(guò)程中的厚度（厚度）。可用于（厚度）控制的非接觸式測(cè)量。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1220
日本olympus磁性測(cè)厚儀Magna-Mike 8600
日本olympus磁性測(cè)厚儀Magna-Mike 8600 瑪格納-麥克8600是一個(gè)簡(jiǎn)單的磁性測(cè)厚儀，可以重復(fù)地測(cè)量非磁性材料以高準(zhǔn)確度的壁厚。操作非常簡(jiǎn)單，小球或盤稱為目標(biāo)材料，電線，放置在或在測(cè)量對(duì)象一側(cè)上，通過(guò)在接觸與磁性探測(cè)從相反側(cè)你掃描，以?shī)A住工件。使用霍爾效應(yīng)測(cè)量探針和靶材料，并實(shí)時(shí)顯示一個(gè)大的顯示器上的測(cè)量值之間的距離的傳感器。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1187
日本olympus超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS 創(chuàng)新的 38DL PLUS 預(yù)示著超聲波測(cè)厚儀的新時(shí)代。該手持式測(cè)厚儀適用于大多數(shù)超聲波壁厚測(cè)量的檢測(cè)應(yīng)用，可與雙振型探頭和單振型探頭的所有探頭配合使用。38DL PLUS 可用于廣泛的應(yīng)用，從使用雙振蕩器型探頭對(duì)內(nèi)部腐蝕管道的減薄測(cè)量到使用單振蕩器型探頭對(duì)薄或多層材料的精確厚度測(cè)量。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1167
日本olympus超聲波測(cè)厚儀 45MG 45MG是一款高性能超聲波測(cè)厚儀，除了標(biāo)準(zhǔn)的腐蝕測(cè)厚功能外，還支持各種軟件選項(xiàng)的精密測(cè)厚。它是一種一體化解決方案，通過(guò)支持奧林巴斯雙振蕩器和單振蕩器厚度測(cè)量探頭，可用于廣泛的應(yīng)用。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1275
日本olympus超聲波測(cè)厚儀27MG 超聲波測(cè)厚儀27MG可以從一側(cè)準(zhǔn)確測(cè)量金屬管道、罐體和其他易受腐蝕和侵蝕的設(shè)備結(jié)構(gòu)的壁厚減薄。它僅重 340 克，符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，單手操作更方便。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1168
在線激光測(cè)厚裝置NME-RM, NSM-RM 測(cè)厚儀
日本YAMABUN山文電氣在線激光測(cè)厚裝置NME-RM, NSM-RM PP/PS/多層/薄膜/片材的理想選擇 以非接觸方式測(cè)量厚度而非基重 座椅制造過(guò)程中的全寬測(cè)量 無(wú)需許可證、許可證或創(chuàng)建校準(zhǔn)曲線即可輕松操作
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1259
日本YAMABUN山文電氣適用于鋼板和鋁板等的臺(tái)式測(cè)厚儀TOF-M 測(cè)量切割成條狀的鋼板和鋁板等金屬板的厚度波動(dòng) 通過(guò)自動(dòng)傳輸機(jī)制實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測(cè)量重復(fù)性 測(cè)量數(shù)據(jù)可自動(dòng)保存在個(gè)人電腦上
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1422
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S 實(shí)現(xiàn)高測(cè)量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對(duì)象和測(cè)量條件） 不易受溫度變化的影響 可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過(guò)程中使用的在線式。 反射型允許從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量 僅可測(cè)量透明涂膜層（取決于測(cè)量條件）
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1231
日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺(tái)式電容式測(cè)厚儀TOF-C2 高測(cè)量分辨率 由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測(cè)量的薄膜。 即使表面狀況粗糙，也可以進(jìn)行測(cè)量。 基重測(cè)量 操作簡(jiǎn)單（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)置功能）
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1345
TOF-4R05臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-6R001
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-6R001 模型TOF-6R001 測(cè)量方法接觸式/線性規(guī) 測(cè)量對(duì)象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等） 測(cè)量原理線規(guī)
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1237
TOF-4R05臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-5R01
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-5R01 簡(jiǎn)單快速的離線厚度測(cè)量 測(cè)量數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示在屏幕上 測(cè)量數(shù)據(jù)可自動(dòng)保存在個(gè)人電腦上 由于是自動(dòng)運(yùn)輸測(cè)量，測(cè)量數(shù)據(jù)不存在個(gè)體差異。 也可用于調(diào)整雷達(dá)圖上的充氣膜。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1273
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-4R05 簡(jiǎn)單快速的離線厚度測(cè)量 測(cè)量數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示在屏幕上 測(cè)量數(shù)據(jù)可自動(dòng)保存在個(gè)人電腦上
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1273
MP0R-FP雙范圍MP0R袖珍型雙緊湊型薄膜測(cè)厚儀
日本fischer雙范圍MP0R袖珍型雙緊湊型薄膜測(cè)厚儀MP0R-FP DUALSCOPE ® MP0R / MP0R-FP 便于攜帶的袖珍型小型膜厚計(jì)。通過(guò)在電磁型和渦流型之間自動(dòng)切換，可以測(cè)量磁性和非磁性材料的各種膜厚。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：990
