日本advance riko熱電特性評價(jià)儀ZEM-3系列

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更新日期：2024-03-22

簡要描述：

日本advance riko熱電特性評價(jià)儀ZEM-3系列
這是一種同時(shí)測量熱電材料的熱電率（塞貝克系數(shù)）和電導(dǎo)率的裝置。我們準(zhǔn)備了溫度范圍為-80°C至1000°C的測量儀器，操作簡單。

詳細(xì)介紹

日本advance riko熱電特性評價(jià)儀ZEM-3系列

這是一種同時(shí)測量熱電材料的熱電率（塞貝克系數(shù)）和電導(dǎo)率的裝置。我們準(zhǔn)備了溫度范圍為-80°C至1000°C的測量儀器，操作簡單。

用途

半導(dǎo)體，陶瓷，金屬等廣泛材料的熱電特性評價(jià)。

特長

采用溫度可控性優(yōu)異的紅外線金像加熱爐和溫差控制用微加熱器
測量由計(jì)算機(jī)控制，可以在規(guī)定溫度下對各溫差進(jìn)行測量，也可以消除暗電動勢等自動測量
標(biāo)配自動歐姆接觸檢查（V-I圖）
可選附件可用于測量薄膜
可定制為高電阻

標(biāo)準(zhǔn)

熱電能JIS R 1650-1
電阻率JIS R 1650-2

仕様

型式	ZEM-3L	ZEM-3LW	ZEM-3M8	ZEM-3M10	ZEM-3HR
溫度設(shè)定范圍	最大測量溫度步長和溫差步長125
溫度范圍	-80?100℃	－100?200℃	50?800℃	50?1000℃	50～800℃/1000℃
樣品尺寸	角或，φ2～4mm×長5～22mm
測量氣氛	低壓He氣體中（大氣中）
電阻測量范圍*	50μΩ～ 100kΩ				50μΩ～ 10MΩ

*由于材料的質(zhì)量和與熱電偶探頭的接觸，測量范圍可能會發(fā)生變化。

測量原理

樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度，同時(shí)將樣品加熱并保持在規(guī)定的溫度。塞貝克系數(shù)的測量是通過測量壓在樣品側(cè)面的熱電偶上的上部和下部T1，T2與熱電偶一側(cè)的同一股線之間的熱電動勢dE來確定的。
電阻測量采用直流四端法，通過在樣品兩端施加恒定電流I，測量熱電偶同一元件線之間的電壓降dV，并去除引線之間的熱電動勢來確定。

P型Si80Ge20燒結(jié)體的測量實(shí)例

提供數(shù)據(jù):工業(yè)科學(xué)技術(shù)研究所能源技術(shù)研究部熱電轉(zhuǎn)換小組

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