0.1毫米透明塑料粒子黑點選別機 AKIYAMA日本透明黑粒去除機塑料粒子色選機塑膠粒子色選機 塑料色彩選別機 0.1mm塑膠粒子色選機 0.1毫米透明粒子黑點選別機 透明樹脂粒子分揀機
更新日期:2024-03-20 訪問量:1466
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日本帶有瑕疵點的塑料粒子色選機 AKIYAMA日本透明黑粒去除機塑料粒子色選機塑膠粒子色選機 塑料色彩選別機 0.1mm塑膠粒子色選機 0.1毫米透明粒子黑點選別機 透明樹脂粒子分揀機
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日本進口塑料粒子黑點色選機TS-7400TH AKIYAMA日本透明黑粒去除機塑料粒子色選機塑膠粒子色選機 塑料色彩選別機 0.1mm塑膠粒子色選機 0.1毫米透明粒子黑點選別機 透明樹脂粒子分揀機
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日本anritsu片劑,膠囊用金屬檢測器KDS1004PSW 降低金屬探測器的穩(wěn)定性主要原因是,會擾亂金屬探測器磁場的振動、靜電和來自外圍設備的噪音等。安立的醫(yī)藥行業(yè)金屬探測器,通過加強針對這些原因的耐性,從而實現(xiàn)了穩(wěn)定的高靈敏度檢測。
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日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E 非常適合安裝 10kΩ ~ 1TΩ 芯片、Melf、軸向型 超高電阻機器分揀機、激光和切割機型修邊機
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日本MIC高精度超低電阻測量儀AE-1152D 自動測量超低電阻的理想之選 非常適合分流電阻器等的超低電阻測量。 取消熱電動勢效應的測量 脈沖測量電流,減少測量端子自熱和磨損
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日本MIC超高精度數字電阻測試儀AE-173E 內置換檔電磁閥電源:DC12V(2A)、24V(1A)/脈沖輸出(2A) 內置無缺陷計數器
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日本MIC超高精度、數字電阻檢測儀AE-163L 超小尺寸芯片 (0 2 0 1, 0 3 0 1 5 ...) 兼容精密電阻! 適用于 B、C、D、F、G、J、K 類、插入式、melf、徑向和軸向電阻分選機和編帶機
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日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D 非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機
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日本MIC兼容超小芯片高精度、數字電阻檢測器AE-162L D、F、G、J、K級超小尖頭(0201、03015)兼容編帶機 0201、03015尺寸超小型芯片兼容(測量功率0.02W以下/測量端子開路電壓9V以下)
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日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E 由于模數隔離提高了抗噪性,因此穩(wěn)定性高 兼容極小的芯片(低功耗測量) 超高速 0.7msec.(代表值)
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日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D 適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機
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日本imt獨立負載型自動拋光機 Rana-3 Rana-3采用單獨加載方式,可自由設置1-6個樣品。 由于可以改變支架的轉數,所以可以在相同的轉數下對支架和盤進行拋光,并且拋光表面不會傾斜或變成鉛筆狀。 支架和圓盤都可以向前和向后旋轉。
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