光學(xué)薄膜新款研發(fā)用測厚儀介紹

發(fā)布日期：2022-02-18      瀏覽次數(shù)：966

光學(xué)薄膜新款研發(fā)用測厚儀介紹



模型	TOF-6R001
測量方法	接觸式/線性量規(guī)
測量對象	薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等）
測量原理	線性規(guī)

產(chǎn)品特點

• 離線輕松快速地測量厚度

• 測量數(shù)據(jù)實時顯示在屏幕上

• 測量數(shù)據(jù)可以自動保存在個人電腦上

• 由于是通過自動運輸測量，所以測量數(shù)據(jù)沒有個體差異。

• 也可用于調(diào)整雷達圖上的充氣膜。

• 實現(xiàn)接觸式測量，小顯示值為 0.01 μm

產(chǎn)品規(guī)格

測量厚度	5-100微米
測量長度	10 至 10000 毫米
測量間距	0.1毫米~
小顯示值	0.01微米
測量壓力	0.19 牛 (0.12 牛)
電源電壓	AC100 伏 50/60 赫茲
工作溫度限制	10-40℃
濕度	35-80%（無冷凝）
能量消耗	50 VA（不包括 PC）
選項	?卷紙打印機輸出功能 ?連續(xù)測量功能 ?每個特殊的觸控筆 ?圖像傳輸功能