黑白投射密度計(jì)T5 PLUS在光學(xué)薄膜材料上的運(yùn)用
光學(xué)薄膜是改變光學(xué)零件表面特征而鍍在光學(xué)零件表面上的一層或多層膜??梢允墙饘倌?、 介質(zhì)膜或這兩類膜的組合。光學(xué)薄膜是各種先進(jìn)光電技術(shù)中不可少的一部分,它不僅能改善系統(tǒng)性能,而且是滿足設(shè)計(jì)目標(biāo)的必要手段,光學(xué)薄膜的應(yīng)用領(lǐng)域涉及光學(xué)系統(tǒng)的各個(gè)方面,包括激光系統(tǒng),光通信,光顯示,光儲(chǔ)存等,主要的光學(xué)薄膜器件包括反射膜、減反射膜、偏振膜、干涉濾光片和分光鏡等等。
光學(xué)薄膜在我們的生活中無處不在,從精密 及光學(xué)設(shè)備、顯示器設(shè)備到日常生活中的光學(xué)薄膜應(yīng)用;比方說,平時(shí)戴的眼鏡、數(shù)碼相機(jī)、各式家電用品,或者是錢上的防偽技術(shù),皆能被稱之為光學(xué)薄膜技術(shù)應(yīng)用之延伸。倘若沒有光學(xué)薄膜技術(shù)作為發(fā)展基礎(chǔ),近代光電、通訊或是鐳射技術(shù)將無法有所進(jìn)展,這也顯示出光學(xué)薄膜技術(shù)研究發(fā)展的重要性。
薄膜由分層介質(zhì)構(gòu)成,通過界面?zhèn)鞑ス馐活惞鈱W(xué)介質(zhì)材料,光學(xué)薄膜的應(yīng)用始于20 世紀(jì)30年代,光學(xué)薄膜已經(jīng)廣泛用于光學(xué)和光電子技術(shù)領(lǐng)域,制造各種光學(xué)儀器,制備條要求件高而精。
薄膜透光率測試儀是現(xiàn)代光學(xué)檢測中*工具,而黑白投射密度計(jì)T5 PLUS則是這一領(lǐng)域。這款儀器利用精密的光學(xué)原理,能夠精確測量薄膜的透光率,為各種薄膜材料的質(zhì)量控制提供了強(qiáng)有力的支持。
?濃度測定
?正網(wǎng)點(diǎn)%
?負(fù)網(wǎng)點(diǎn)%
?透過率
?校正功能
?孔徑 φ3mm、φ2mm、φ1mm
?使用說明書(帶保證書)
?校準(zhǔn)膜
?確認(rèn)膜
?AC 適配器(9V、500mA)
?通信電纜(另售)
?便攜包(另售)
內(nèi)置光臺(tái)可實(shí)現(xiàn)精確的濃度(透射率)測量。
主要測量對象:薄膜、玻璃、樹脂
可以使用上面列出的材料以外的材料進(jìn)行測量,只要它們能透光即可。
*對于T5plus標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品,測量目標(biāo)的厚度在1mm以內(nèi)。
即使超過1mm,我們也可以通過修改等方式處理,因此請與我們聯(lián)系。
它具有校正功能,可與其他制造商的密度計(jì)兼容。
可以顯示類似的測量值。
通過對標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品無法適應(yīng)的尺寸和形狀進(jìn)行修改。