X 射線熒光分析原理及特點(diǎn)

發(fā)布日期：2022-09-19      瀏覽次數(shù)：1054

_{X 射線熒光分析原理及特點(diǎn)}



熒光 X 射線的產(chǎn)生



當(dāng)樣品被初級 X 射線照射時(shí)，電子被 X 射線的能量翻轉(zhuǎn)，原子被激發(fā)。外層電子落到那里，發(fā)射出與能量差相對應(yīng)的熒光X射線。定性分析是可能的，因?yàn)榇藭r(shí)產(chǎn)生的熒光 X 射線具有元素有的能量。也可以從熒光 X 射線的強(qiáng)度進(jìn)行定量分析。

X射線熒光分析的特點(diǎn)

• 無損分析

• 易于測量

• 快速測量結(jié)果

• 易于預(yù)處理

• 可以進(jìn)行廣泛的元素分析

• 不受化學(xué)狀態(tài)影響

X 射線熒光分析的優(yōu)點(diǎn)

• 可進(jìn)行現(xiàn)場分析

• 分析過程中不會破壞樣品

• 預(yù)處理和測量很容易，任何人都可以進(jìn)行分析。

• 快速測量結(jié)果降低分析成本

• 能夠在寬濃度范圍內(nèi)進(jìn)行定量和定性分析

• 可以進(jìn)行廣泛的元素分析

• 不受化學(xué)狀態(tài)影響

• 環(huán)保，因?yàn)椴皇褂萌魏位瘜W(xué)物質(zhì)

運(yùn)用示例




環(huán)境

• 土壤中的重元素分析

• 焚燒灰、工業(yè)廢物、廢水、粉塵、電鍍液、污泥

• RPF、礫石、爐渣等的分析

電子材料/零件

• 電子元件中有害重金屬的測量

• 半導(dǎo)體和磁盤的薄膜厚度測量

• 電極多層厚度和結(jié)構(gòu)分析

• 電子零件鍍層厚度和結(jié)構(gòu)的分解

資源/能源

• 礦石勘探

• 粘土礦物、土壤、巖石和回收材料的分析

• 分析果樹和煙草等植物的葉子

• 鋼鐵、有色金屬

• 冶煉渣分析

• 焊錫、貴金屬、合金、有色金屬的主要成分雜質(zhì)分析

　化學(xué)

• 催化劑和涂料的分析

• 重油中 S、V 和重金屬的分析

• 潤滑油中添加元素分析

• 顏料和防銹劑的成分分析

• 醫(yī)藥原料、中間產(chǎn)品、成品分析

　機(jī)器

• 材料/零件材料的判別分析

• 表面處理劑分析

• 表面膜厚測量

　文化財(cái)產(chǎn)、考古、取證

• 埋藏文物和黑曜石的 Sr/Rb 分析

• 評估珠寶、繪畫和藝術(shù)品

• 貴金屬配件分析

• 探索機(jī)場和海關(guān)

• 法醫(yī)判斷分析

　食物

• 食品中異物及添加劑分析

• 食品容器的雜質(zhì)分析

　高分子材料

• 陶瓷、水泥、玻璃和油漆的成分分析

• 打印機(jī)彩色墨水的管理與分析

• 塑料中的硅分析

• 磚和粘土的分析